芯片可靠性测试整体解决方案

提供可靠性测试整体解决方案：可靠性设备，HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。

智能HTOL系统

智能HTOL设备特点：

1、自有专利技术，自动化实时监测功能（专利号：ZL202120878307.7)；

2、方便灵活配置芯片状态、施加信号，提高HTOL debug及Setup效率；

3、实时监测并记录环境温度，以及每颗芯片电压，电流，寄存器状态等数据，确保芯片处于正常HTOL状态，保证HTOL测试质量；

4、监测数据异常自动报警，实时发现问题并介入分析，大大提高HTOL效率，节省更多时间成本、FA成本；

5、全程数据实时记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性；

6、实时参数正态分布图，散点图等分析数据，有利于分析芯片温度特性。

7、全程HTOL数据记录，让质量报告更有说服力，下游客户更放心；

8、设备体积小，重量轻，功耗小，节能环保，干净整洁；

9、操作简单，易于上手。

HTOL方案设计制作

涵盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCB layout 加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告等全方位服务。