模拟及混合信号ATE
T86X系列模拟及混合信号测试机，适用于高精度运放，电源管理，LED照明，DC-DC，PMU，音频等等芯片量产测试
栅极电阻，电容测试设备
T342系列是Mosfet，IGBT等半导体器件进行栅极电阻(Rg)，电容(Ciss/Crss/Coss)的测试设备，具备扫描曲线功能，可与probe，handler联机进行CP/FT量产测试，也可在实验室进行验证分析测试。
电感负载(UIL/EAS)测试设备
T33X系列为电感负载测试系统，也称为雪崩能量测试系统，主要用于测试Mosfet，IGBT，Diode等半导体器件的雪崩击穿特性，通过给被测器件施加可控制的感性能量，测试器件是否能够正常吸收和承受电感释放的能量，经过测试的器件，可以安全使用于感性负载上，大大提高器件质量。本设备具有雪崩能量曲线功能，即可用于量产测试，也可以用于实验室分析测试。
微小电容测试系统
T12X系列为测试TVS二极管，MEMS传感器，高速光电开关等半导体器件的寄生电容和DC参数，可以精准、稳定的测试到极其微小的非法级电容，可以联机handler进行大批量生产测试。